采用金相系列显微镜，配合起偏、检偏和DIC微分干涉，能很好地观察屏幕上的导电粒子，确定其数量是否满足要求。第一，需要观察导电粒子必须使用带有DIC和起偏检偏器的金相显微镜。对观测导电微粒一般选用镜头要求不超过20次为好，超过后会因景深问题而造成观测模糊，无法观测到好的效果。金相显微镜和必要的屏幕准备好之后，就可以开始观察导电粒子了。先将DIC和起偏检偏拉出，然后将屏幕置于载物台上，调整焦距，并通过平台移动找到观测位置。将起偏及检偏器插入，通过目镜观察屏幕上的位置，然后重新调整检偏器，直到光线最暗的时候停止调整。最终插入DIC，调整DIC的偏光，直到看到导电粒子的时候，它才能停止。上面是用金相显微镜观察导电粒子的简单方法。
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